Podľa správ zahraničných médií japonský výrobca detektorov svetla Hamamatsu Photonics vyvinul vysokorýchlostný kontrolný systém, ktorý dokáže rýchlo skontrolovať kvalitu čipov Micro LED na doštičku.
Uvádza sa, že detekčný systém sa nazýva MiNY PL. Využíva technológiu fotoluminiscenčnej skúšky (PL) na detekciu abnormalít vzhľadu, svietivosti a vlnovej dĺžky LED čipov. Použitá technológia skúšky fotoluminiscencií je založená na technológii spracovania obrazu Hamamatsu Photon a novom vyvinutom zobrazovacom module.
Spoločnosť Hamamatsu Photonics uviedla, že systém MiNY PL dokáže rýchlo určiť, či je čip kvalifikovaný pri testovaní čipov Micro LED, čo vedie k zlepšeniu výťažnosti produktov Micro LED na zobrazovanie a účinnosti výskumu a vývoja micro LED.
Okrem toho systém MiNY PL v budúcnosti zjednoduší 100% kontrolného procesu na hromadnej výrobnej linke Micro LED.
Zhodou okolností sa nedávno objavili správy, že Spoločnosť Apple vyvíja kontrolný systém Micro LED a získala súvisiace patenty.
Systém spoločnosti Apple detekuje a presne vyhľadá kvalitu čipu Micro LED predtým, ako sa prenesie na panel displeja. Účelom je tiež znížiť chybovosť a stratu výrobného procesu, čím sa zlepší spoľahlivosť displeja a zabezpečí sa kvalita výrobku.
Veľkosť micro LED sa zmenšuje, počet použitých čipov a pracovné zaťaženie procesu prepravnej lepenia sa výrazne zvýšili. Ak je miera chybovosti čipu príliš vysoká, zníži sa výťažnosť výroby následných procesov, zvýši sa pracovné zaťaženie prepracovania a celkové náklady. Preto je mimoriadne dôležité kontrolovať výrobný výnos z front-end procesu, ako je zisťovanie kvality čipu, ale to je tiež jeden z problémov v odvetví mikro LED.
Na tento účel mnohí výrobcovia zariadení zvýšili svoje úsilie v oblasti výskumu a vývoja testovacích zariadení Micro LED a súčasný pokrok je nerovnomerný. Bez ohľadu na konkrétne podrobnosti, príslušné správy teraz ukazujú, že došlo k prelomu v prepojení kontroly kvality čipov, čo je skvelá správa pre odvetvie Micro LED.